COB BI測試老化試驗箱，專為COB（Chip on Board，板上芯片）封裝及BI（Backlight Inverter，背光逆變器）等電子元件的高溫老化測試設計，遵循ISO 9001質量管理體系及GB/T 2423、IEC 60068等環境試驗標準。

設備特點：

設備通過模擬長期高溫工況，驗證元件熱穩定性、材料耐受性及電氣性能可靠性，適用于研發驗證、量產篩選及質量抽檢全流程。